microscopie en champ proche
La microscopie en champ proche ou à sonde locale (SPM pour Scanning Probe Microscopy) est un ensemble de techniques de caractérisation de surface. Au tournant des années 2000, on en dénombre plus d’une quarantaine de types. Leur principe générique est d’approcher, à quelques nanomètres de la surface d’un échantillon, une pointe dont la position, pendant le balayage, est asservie par un dispositif de rétroaction en fonction du signal choisi. C’est la mesure des variations de positionnement de la pointe qui permet d’extraire les caractéristiques de l’échantillon, relativement au choix d’un type (...)
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