microscope à force atomique (AFM)
Le microscope à force atomique (AFM pour Atomic force microscope) est le deuxième type de microscope en champ proche à avoir vu le jour. Il a été inventé en 1986 par Gerd Binnig, Christoph Gerber (tous deux également à l’origine de l’invention du microscope à effet tunnel) et Calvin F. Quate .
Il comprend cinq composants clés (figure 1) : 1) une fine pointe montée sur un levier de force flexible, 2) un système de détection de la déviation du levier, 3) un système de rétroaction pour diriger et suivre la déviation (et par là, la force d’interaction), 4) un système mécanique de balayage (habituellement des (...)
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